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UX-300
分析原理：能量色散X射线荧光分析法
分析元素：Na ～U任意元素
检出下限(Cd/Pd)：Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm
样品形状：任意大小，任意不规则形状
样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
X射线管：靶材/Mo 管电压/5～50 kV 管电流/最大1～1000 μA
照射直径：2、5、8mm自动转换
探测器：Si(PIN)半导体高分辨率探测器
滤光片：八种新型滤光片自动选择
样品定位：微动载物平台（选配）
样品观察：30倍彩色CCD摄像机
微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）
软件
定量分析：α系数法 WINDOWS XP
数据处理：主机/戴尔／方正PC机/内存/256 MB 以上/硬盘/40 GB 以上 系统：Windows XP正版
工作环境：温度 10～35 ℃ 湿度 30～70%R H
電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz
功率：1.1kW
重量：40Kg
外形尺寸：610(W)×750(D)×500(H)mm
x荧光光谱仪